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一、SWIR相機

大靶面 InGaAs 光斑分析儀:BLC-SWIR 1915擁有高分辨率,分辨率為 1280×1024 像素,像素間距為 15μm,具有 900nm-1700nm 波段的高靈敏度檢測能力,可提供該波段的高清圖像。該相機內置 TE Cooler,暗電流較低,讀出噪音低至 40e-。此外,該相機具有多種增益模式和非均勻性校正,可以在夜間弱光條件下提高高清圖像,體積小、重量輕,易于集成。

產品型號BLC-SWIR 1915
像元數1280 x 1024
光譜響應900 -1700nm
像元間距15μm x 15μm
光學接口M42 x 1
有效面積19.2mm x 15.36mm
量子效率>70%(1.0μm ~ 1.5μm)
幀頻25 Hz
積分時間0.2μs
滿阱容量1.8Me-
數字輸出Gnet(千兆網口)
制冷方式TEC
暗電流30fA@0.1V&18℃
ADC12bit
觸發接口RS-422 /TTL
讀出噪聲< 40e-(CDS模式)
開窗模式支持(定制)
曝光模式全局曝光
電源輸入DC 12V ± 2V
功耗<4W (不開啟TEC)
工作溫度-20℃ ~ +70℃
圖像校正支持單點/兩點校正
二、SWIR相機原理

SWIR是短波長紅外線的縮寫,也常被稱為短波紅外線。SWIR 通常指波長范圍在 900nm 至 2500nm 之間的光。由于標準硅傳感器的上限約為 1000nm,因此 SWIR 成像需要能夠在短波紅外范圍內工作的傳感器和SWIR 相機組件,而這超出了硅的上限。銦鎵砷 (InGaAs) 傳感器通常用于 SWIR 成像,通常覆蓋 900nm 至 1700nm 的范圍。但 InGaAs 設備本身價格昂貴,并且在擴展到更小的像素間距和更高分辨率陣列方面面臨挑戰。

與物體本身發射的長波紅外 (LWIR) 光不同,SWIR 或短波紅外光與可見光類似,光子會被物體反射或吸收,從而提供高分辨率成像所需的強烈對比度。雖然 LWIR 成像儀發出的熱圖像更模糊,但 SWIR 成像儀可提供高分辨率圖像,就像可見光相機一樣。

三、SWIR相機應用

SWIR 成像儀用于多種應用,包括硅片檢測、激光光束分析、高光譜成像、化學和塑料傳感、機器視覺成像、農業傳感、監控系統和醫學成像。它們還可用于手機面部識別傳感器和在模糊環境中進行自動駕駛汽車成像。


詳情:

規格參數

  • 行業分類:

    儀器儀表/光學儀器/其他光學儀器

  • 產品類別:

    BND自研光學設備/自研光束分析儀

  • 品  牌:

    BND

  • 規格型號:

    BLC-SWIR 1915

  • 庫  存:

    1000

  • 生 產 商:

    BND

  • 產  地:

    中國廣東省深圳市

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