IM7581日置（HIOKI）阻抗分析儀IM7581
IM7581日置(HIOKI)阻抗分析儀IM7581
快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻
測量頻率1MHz~300MHz
測量時間：快0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀的測試治具。
日置阻抗分析儀IM7581 HIOKI/日置總代理全國優勢供應
購買日置阻抗分析儀IM7581請選擇正規渠道濟南千斗工業科技有限公司代理銷售的HIOKI日置阻抗分析儀IM7581具有以下特點測量頻率1MHz~300MHz
測量時間：zui快0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
主機大小僅機架一半
豐富的接觸檢查功能
日置阻抗分析儀IM7581適用于對元器件電感、電容、電阻的測量
日置阻抗分析儀IM7581主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀的測試治具。
日置阻抗分析儀IM7581基本參數
測量模式 LCR（LCR測量），分析（掃頻測量），連續測量
測量參數 Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q

精度保證范圍 100 mΩ~5 kΩ
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測量時間：zui快0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
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