應(yīng)用
6430的功能使其同樣適于在測試實(shí) 驗(yàn)室的研究工作和復(fù)雜元件的評(píng)估，結(jié) 合其它源測量儀器或SMU用于在較高電平 上進(jìn)行低電流、高電阻或高靈敏度的半 導(dǎo)體測量。6430的低噪聲和漂移性能也非 常適合高阻性納米線和其它高阻納米材 料的研究。
高速數(shù)據(jù)處理

6430能以超過2000個(gè)讀數(shù)/秒的速度 讀至其內(nèi)存緩沖器。IEEE-488總線輸出能 每秒發(fā)送達(dá)75個(gè)源/測量讀數(shù)至外部計(jì)算 機(jī)控制器，包括通過/失效指示。

6430能提供達(dá)2.2W的4象限源， 以及低至亞f    A和微伏電平的測量 靈敏度。在高達(dá)20V，它能測量從 1pA量程（僅0.4f   A 峰峰值噪聲）至 100mA量程的電流。可提供200mV至 200V的電壓范圍。電流和電壓量程 設(shè)置定義了源或阱電壓或電流的  * 大值。
典型應(yīng)用：
半導(dǎo)體測量
基于FET元件中的柵 極漏電或溝道漏電會(huì)在 MOSFET、FET、模擬開關(guān)和許 多其它電路中產(chǎn)生誤差。通 過允許研究人員測量極低電 平的電流和電壓，6430能幫 助他們了解這些元件的設(shè)計(jì) 局限以及研究替代器件的結(jié) 構(gòu)或材料。
SET研究
6430具有的優(yōu)秀低電流測量能力（<0.4f   A峰峰值）使其對(duì)于單電子晶體管 （SET）和量子點(diǎn)研究非常有用。使用類似于鎖定的技術(shù)，6430能以1aA靈敏度測量 電流（10–18A=6電子/秒）。
測量行業(yè)的 * 低噪聲和漂移
下圖的數(shù)據(jù)表明6430在5小時(shí)期間內(nèi)穩(wěn)定性非常突出，而且短期的低噪聲性能 優(yōu)秀。使用6430的AUTOFILTER以5秒上升時(shí)間在1pA量程上實(shí)現(xiàn)微弱信號(hào)采集。插 圖中的細(xì)節(jié)是濾波信號(hào)的截圖，顯示了6430型在 * 開始的100秒期間的低噪聲性能 （僅200aA峰峰值）。在溫度變化約1°C的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下提取數(shù)據(jù)，其中6430的IN/ OUT HI和SENSE引線接防護(hù)罩。