TSP-Link 允許在主/從配置中連接多個(gè) 2600 系列儀器，從而實(shí)現(xiàn)無(wú)限的可擴(kuò)展性
板載測(cè)試腳本處理器處理和運(yùn)行來(lái)自?xún)x器的復(fù)雜序列 - 為您提供高達(dá) 10 倍的吞吐量
允許為壓敏電阻、二極管和 BJT/FET 等組件創(chuàng)建自定義測(cè)量功能，或基于算法的測(cè)試，如具有功率一致性、線(xiàn)性度和閂鎖測(cè)試序列以及熱響應(yīng)測(cè)試的 IV 掃描。
在 16MB 的非易失性存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)多達(dá) 50,000 行 TSP 代碼和超過(guò) 200,000 個(gè)讀數(shù)。
在每個(gè)通道上以 >10,000 個(gè)讀數(shù)/秒同時(shí)測(cè)量 I 和 V。只需 200μs 即可在任何通道上執(zhí)行完整的源測(cè)量周期
使用高速自動(dòng)量程功能確保可重復(fù)計(jì)時(shí)和高吞吐量。
GPIB、RS-232 和 14 位數(shù)字 I/O 接口端口是標(biāo)準(zhǔn)配置
電流測(cè)量范圍（每通道） 1pA 至 3A
電流源范圍（每通道）5pA 至 3A
基本電流編程精度 0.03%
基本電流測(cè)量精度 0.02%
電壓測(cè)量范圍（每通道） 1μV 至 40V
電壓源范圍（每通道）5μV 至 40V
基本電壓編程精度 0.02%
基本電壓測(cè)量精度 0.015%
讀取到內(nèi)存 10,000/s
掃描源更改和讀取到內(nèi)存 5,500/s
掃描源更改和讀取到 GPIB 3,600/s
GPIB 1,100/s 的現(xiàn)場(chǎng)讀數(shù)
點(diǎn)源更改和讀取到 GPIB 880/s
脈沖能力 200μs 最小源/測(cè)量脈沖