一一、詳細介紹

GWB－200JA型引伸計標定儀，是一種純機械式的高精度位移測微儀器。依據JJG762－92引伸計檢定規程要求，專門用于對各類引伸計的標定，也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應百分表、千分表的檢定。

結構特點及讀數方式

1、本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合，同時配有加長立柱附件，配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣，可以方便地進行多種規格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據自己的測試特殊需要，配置專用配件進行精密微變形量計量。

2、精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數內

筒、讀數外筒及高精密螺紋付組成。其最*量程25㎜；

最小分度（游標分度）0.0002㎜；旋轉外筒分度0.002㎜。

位移變化讀數為：

L=（a+0.001b+0.0001c）-(a₀+0.001b₀+0.001c₀)

其中：a－內筒毫米刻線讀數

b－外筒刻線讀數

c－游標刻線讀數

a₀b₀c₀為相應位移變化前讀數

精密微分筒

二、各項技術精度指標

1、測量引伸計標距范圍Ｌmax：500㎜

2、測量支座上支臂安裝孔徑：φ10；φ28

3、微分測頭讀數內筒軸向刻度：0.5㎜/格

4、微分測頭讀數內筒游標刻度：0.0002㎜/格

5、微分測頭讀數外筒園周刻度：0.002㎜/格

6、高精密微分測頭精度指標

標定儀示值誤差：

量程0.5㎜以內≤0.5μm絕對誤差

量程0.5㎜以上≤0.10%逐點相對誤差

參照標準：

JJF1096-2002引伸計標定器校準規范

ISO9513:1999金屬材料單軸試驗用引伸計標定

JJG762-1992引伸計檢定規程

可進行0.5級引伸計的標定